1、多核/并行测试系统使用将会更多

　　测试工程师使用多核处理器，利用并行处理开发自动化测试应用，并且使之达到较大可能的吞吐量。

　　2、软件定义的仪器将会增加

　　复杂仪器的功能越来越多地在其内置的软件中进行定义。由于相对确定的用户界面和固件必须被开发并集成到仪器中，大部分独立仪器不能像被测单元那样迅速地改变功能特性。因此，测试工程师开始寻求一种软件定义的仪器方案，以满足特定应用需求快速地定制仪器，并且将测试直接集成到设计过程中。

　　3、支持FPGA的仪器将更流行

　　随着为FPGA设计的系统级工具的增加，越来越多的制造商正在将FPGA加入到模块化仪器中，使得工程师能够修改软件并按照他们的需求进行重新编程。

　　4、无线标准将不断增加

　　随着使用射频以及无线应用的增加，尤其是在工业界，无线功能正在被不断地加入到更多的产品中，射频仪器很快就会成为像数字万用表等通用仪器一样普及的仪器。

　　5、基于模拟的用于片上系统（SoC）测试以及封装系统（SiP）测试的自动化测试设备

　　复杂的片上系统和封装系统相比典型的基于矢量的芯片测试而言，需要与测试布置在印刷电路板上元件结合更为紧密的系统级功能测试。